簡單介紹冷鏡露點(diǎn)儀的阻容法
冷鏡露點(diǎn)儀的阻容法是一種不斷完善的濕度測量方法。利用一個(gè)高純鋁棒，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜，其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜，金膜與鋁棒之間形成電容，由于氧化鋁薄膜的吸水特性，導(dǎo)致電容值隨樣氣水分的多少而改變，測量該電容值即可得到樣氣的濕度。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是測量量程可更低，甚至達(dá)-100℃，另一突出優(yōu)點(diǎn)是響應(yīng)速度非?？欤瑥母傻綕耥憫?yīng)一分鐘可達(dá)90%，
冷鏡露點(diǎn)儀因而多用于現(xiàn)場和快速測量場合；缺點(diǎn)是精度較差，不確定度多為±2～3℃。老化和漂移嚴(yán)重，使用3~6個(gè)月必須校準(zhǔn)。但隨著各廠家的不斷努力，該方法正在逐漸得到完善，例如，通過改變材料和提高工藝使得傳感器穩(wěn)定度大大提高，通過對傳感器響應(yīng)曲線的補(bǔ)償作到了飽和線性，解決了自動(dòng)校準(zhǔn)問題。
任何光學(xué)系統(tǒng)均會受到染影響，冷鏡露點(diǎn)儀也不例外。特別是清潔鏡面后會減少光反射，雖然對儀表性能影響微乎其微，但是日益積累超過一定程度，系統(tǒng)將無法準(zhǔn)確地運(yùn)作。因此，冷鏡露點(diǎn)儀均植入了一個(gè)自動(dòng)補(bǔ)償系統(tǒng)自動(dòng)平衡補(bǔ)償（ABC）定期地重新平衡傳感光學(xué)元件，補(bǔ)償任何由于污染而引起的光強(qiáng)度地減少。擁有各種周期和持續(xù)時(shí)間的ABC系統(tǒng)，能根據(jù)特定工業(yè)過程情況選擇合適的時(shí)間。在ABC階段中保持顯示和輸出數(shù)據(jù)，允許*的連續(xù)的工業(yè)過程控制。Optidew具有動(dòng)態(tài)污染糾正（即DCC）。DCC是智能化的微處理器控制的系統(tǒng)，工作原理與ABC相同，但是檢測和補(bǔ)償污染更為先進(jìn)，并能自動(dòng)地糾正飽和條件，如當(dāng)傳感器處于氣體凝露的情況下。
